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  A quantitative nanodiffraction system for ultrahigh vacuum scanning transmission electron microscopy

Hembree, G., Koch, C., & Spence, J. C. H. (2003). A quantitative nanodiffraction system for ultrahigh vacuum scanning transmission electron microscopy. Microscopy and Microanalysis, 9, 468-474.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hembree, G.G.1, Autor
Koch, C.2, 3, Autor           
Spence, J. C. H.1, Autor
Affiliations:
1Department of Physics & Astronomy Arizona State University, Tempe, AZ, USA, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Ehemalige Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 127095
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 9 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 468 - 474 Identifikator: -