ARHVTEM of the Pd/ZnO heterointerface chemical structure

Murakami, K.; Saito, M.; Takuma, E.; Ichinose, H.

ARHVTEM of the Pd/ZnO heterointerface chemical structure

Murakami, K., Saito, M., Takuma, E., & Ichinose, H. (2003). ARHVTEM of the Pd/ZnO heterointerface chemical structure. Journal of Electron Microscopy, 52(1), 27-32.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2EFB-1 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2EFC-0

資料種別: 学術論文

その他のタイトル : J. Electron Microsc.

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Murakami, K.¹, 著者
Saito, M.^{2, 3}, 著者
Takuma, E.¹, 著者
Ichinose, H.¹, 著者

所属:
1Univ Tokyo, Dept Mat Sci, Sch Engn, Tokyo 1130033, Japan.;, ou_persistent22
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
3Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; HVTEM, ZnO/Pd interface, interface chemical structure, internal oxidation, projected potential image

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2003

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 112701
ISI: 000182216800005

学位: -

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出版物名: Journal of Electron Microscopy

出版物の別名 : J. Electron Microsc.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 52 (1) 通巻号: - 開始・終了ページ: 27 - 32 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0022-0744

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