Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
  The +/-45 degrees correlation interferometer as a means to measure phase noise of parametric origin

Rubiola, E., Giordano, V., & Stoll, H. (2003). The +/-45 degrees correlation interferometer as a means to measure phase noise of parametric origin. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 52, 182-188.

Item is

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Rubiola, E.1, Autor
Giordano, V.1, Autor
Stoll, H.2, 3, Autor           
Affiliations:
1Univ Henri Poincare, LPMIA, ESSTIN, Nancy, France CNRS, LPMO, Besancon, France, ou_persistent22              
2Former Central Scientific Facility ANKA Synchroton Beamline, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497651              
3Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Schütz;
 Zusammenfassung: -

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n):
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 63708
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 52 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 182 - 188 Identifikator: -