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  Scanning X-ray microdiffraction with submicrometer white beam for strain/stress and orientation mapping in thin films

Tamura, N., MacDowell, A. A., Spolenak, R., Valek, B. C., Bravman, J. C., Brown, W. L., et al. (2003). Scanning X-ray microdiffraction with submicrometer white beam for strain/stress and orientation mapping in thin films. Journal of Synchrotron Radiation, 10, 137-143.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2E08-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2E09-1
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Tamura, N., Autor
MacDowell, A. A., Autor
Spolenak, R.1, Autor           
Valek, B. C., Autor
Bravman, J. C., Autor
Brown, W. L., Autor
Celestre, R. S., Autor
Padmore, H. A., Autor
Batterman, B. W., Autor
Patel, J. R., Autor
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 55935
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Synchrotron Radiation
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 10 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 137 - 143 Identifikator: -