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  Advances in EELS spectroscopy by using new detector and new specimen preparation technologies

Scheu, C., Gao, M., van Benthem, K., Tsukimoto, S., Schmidt, S., Sigle, W., et al. (2003). Advances in EELS spectroscopy by using new detector and new specimen preparation technologies. Journal of Microscopy, 210, 16-24.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Scheu, C.1, Autor           
Gao, M.1, Autor           
van Benthem, K.1, Autor           
Tsukimoto, S.1, Autor           
Schmidt, S.1, Autor           
Sigle, W.1, Autor           
Richter, G.1, 2, Autor           
Thomas, J.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Ehem. Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 53020
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Microscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 210 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 16 - 24 Identifikator: -