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  Plasmon energy mapping in energy-filtering transmission electron microscopy

Sigle, W., Krämer, S., Varshney, V., Zern, A., Eigenthaler, U., & Rühle, M. (2003). Plasmon energy mapping in energy-filtering transmission electron microscopy. Ultramicroscopy, 96, 565-571.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Sigle, W.1, 2, Autor           
Krämer, S.1, Autor           
Varshney, V.3, Autor
Zern, A.1, Autor           
Eigenthaler, U.1, 4, Autor           
Rühle, M.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
3Indian Institute of Technolgy, Kanpur 208016, India. Materials Department, University of California at Santa Barbara, Santa Barbara, CA 93106, USA Balhuff GmbH, Gartenstraße 21-25, D-73765 Neuhausen a.d.F., Germany, ou_persistent22              
4Scientific Staff Assembly Dual Beam, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497668              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 51282
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Ultramicroscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 96 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 565 - 571 Identifikator: -