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  Analysis of mismatched heterointerfaces by combinded HREM image processing and modeling

Möbus, G., Levay, A., Inkson, B. J., Hytch, M., Trampert, A., & Wagner, T. (2003). Analysis of mismatched heterointerfaces by combinded HREM image processing and modeling. Zeitschrift für Metallkunde, 94, 358-367.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Möbus, G.1, Autor
Levay, A.1, Autor
Inkson, B. J.1, Autor
Hytch, M.1, Autor
Trampert, A.1, Autor
Wagner, T.2, Autor           
Affiliations:
1University of Oxford, ou_persistent22              
2Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt; ZWE Dünnschichtlabor; strain mapping; misfit dislocations; semiconductor interfaces; intermetallic alloys; dislocation networks; molecular modelling; quantitative HREM
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 51193
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Zeitschrift für Metallkunde
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 94 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 358 - 367 Identifikator: -