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  Recent progress with high resolution X-ray microscopy at the XM-1

Denbeaux, G., Schneider, G., Pearson, A., Chao, W., Bates, B., Harteneck, B., et al. (2003). Recent progress with high resolution X-ray microscopy at the XM-1. Journal de Physique IV, 104, 9-9.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2D03-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2D04-4
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Phys. IV

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Denbeaux, G.1, Autor
Schneider, G.1, Autor
Pearson, A.1, Autor
Chao, W.1, Autor
Bates, B.1, Autor
Harteneck, B.1, Autor
Olynick, D.1, Autor
Anderson, E.1, Autor
Fischer, P.2, Autor           
Juenger, M.1, Autor
Affiliations:
1Lawrence Berkeley Natl Lab, Ctr Xray Opt, Berkeley, CA 94720 USA.; Univ Calif Berkeley, Dept Civil & Environm Engn, Berkeley, CA 94720 USA., ou_persistent22              
2Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Schütz;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003-03
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 112039
ISI: 000183273900005
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal de Physique IV
  Alternativer Titel : J. Phys. IV
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 104 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 9 - 9 Identifikator: ISSN: 1155-4339