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  Early stage of plastic deformation in thin films undergoing electromigration

Valek, B. C., Tamura, N., Spolenak, R., Caldwell, W. A., MacDowell, A. A., Celestre, R. S., et al. (2003). Early stage of plastic deformation in thin films undergoing electromigration. Journal of Applied Physics, 94(6), 3757-3761.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Appl. Phys.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Valek, B. C.1, Autor
Tamura, N.1, Autor
Spolenak, R.2, Autor           
Caldwell, W. A.1, Autor
MacDowell, A. A.1, Autor
Celestre, R. S.1, Autor
Padmore, H. A.1, Autor
Braman, J. C.1, Autor
Batterman, B. W.1, Autor
Nix, W. D.1, Autor
Patel, J. R.1, Autor
Affiliations:
1Stanford Univ, Dept Mat Sci & Engn, Stanford, CA 94305 USA.; Adv Light Source, Berkeley, CA 94720 USA.; Stanford Univ, SSRL SLAC, Menlo Pk, CA 94025 USA., ou_persistent22              
2Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003-09-15
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 112766
ISI: 000185419600010
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Applied Physics
  Alternativer Titel : J. Appl. Phys.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 94 (6) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3757 - 3761 Identifikator: ISSN: 0021-8979