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  Direct atom-resolved imaging of oxides and their grain boundaries

Zhang, Z. L., Sigle, W., Phillipp, F., & Rühle, M. (2003). Direct atom-resolved imaging of oxides and their grain boundaries. Science, 302, 846-849.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2C25-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2C28-B
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zhang, Z. L.1, Autor           
Sigle, W.1, 2, Autor           
Phillipp, F.1, Autor           
Rühle, M.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003-10-31
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 51048
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Science
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 302 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 846 - 849 Identifikator: -