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  Electromigration-induced plastic deformation in passivated metal lines

Valek, B. C., Bravman, J. C., Tamura, N., MacDowell, A. A., Celestre, R. S., Padmore, H. A., et al. (2003). Electromigration-induced plastic deformation in passivated metal lines. Applied Physics Letters, 81(22), 4168-4170.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Valek, B. C., Autor
Bravman, J. C., Autor
Tamura, N., Autor
MacDowell, A. A., Autor
Celestre, R. S., Autor
Padmore, H. A., Autor
Spolenak, R.1, Autor           
Brown, W. L., Autor
Batterman, B. W., Autor
Patel, J. R., Autor
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003-11-25
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 55941
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 81 (22) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 4168 - 4170 Identifikator: -