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  EELS and EFTEM studies at low energy losses and high energy resolution

Sigle, W. (2004). EELS and EFTEM studies at low energy losses and high energy resolution. In I. Anderson, R. Price, E. Hall, E. Clark, & S. McKernan (Eds.), Proceedings Microscopy and Microanalysis 2004, Suppl. 2 (pp. 258CD-259CD). New York, USA: Press Syndicate of the University of Cambridge.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AE1-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AE2-6
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Sigle, W.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 194929
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy and Microanalysis 2004
Veranstaltungsort: Savannah, Georgia, USA
Start-/Enddatum: 2004-08-01 - 2004-08-05

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings Microscopy and Microanalysis 2004, Suppl. 2
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Anderson, I.M., Herausgeber
Price, R., Herausgeber
Hall, E., Herausgeber
Clark, E., Herausgeber
McKernan, S., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, USA : Press Syndicate of the University of Cambridge
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 258CD - 259CD Identifikator: -