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  Channel cracking of NiAl thin films on Si substrates

Wellner, P., Kraft, O., Dehm, G., Anderson, J., & Arzt, E. (2004). Channel cracking of NiAl thin films on Si substrates. Acta Materialia, 52, 2325-2336.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AAC-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AAD-F
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wellner, P.1, Autor           
Kraft, O.1, Autor           
Dehm, G.1, Autor           
Anderson, J.2, Autor
Arzt, E.1, 3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Institut für Materialforschung II,Forschungszentrum Karlsruhe und Institut für Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen der Universität Karlsruhe, Germany Institute of Polymer Mechanics, Riga, Latvia, ou_persistent22              
3Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 175371
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Acta Materialia
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 52 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 2325 - 2336 Identifikator: -