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  X-Ray diffraction study of the ultrathin Al2O3 layer on NiAl(110)

Stierle, A., Renner, F., Streitel, R., Dosch, H., Drube, W., & Cowie, B. C. (2004). X-Ray diffraction study of the ultrathin Al2O3 layer on NiAl(110). Science, 303, 1652-1656.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2966-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2967-6
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Stierle, A.1, Autor           
Renner, F.2, Autor           
Streitel, R.2, Autor           
Dosch, H.2, 3, Autor           
Drube, W.4, Autor
Cowie, B. C.4, Autor
Affiliations:
1Former Central Scientific Facility ANKA Synchroton Beamline, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497651              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
3Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22              
4Deutsches Elektronen-Synchrotron (DESY), Notkestr. 85, D-22603 Hamburg, Germany; European Synchrotron Radiation Facility (ESRF), B. P. 220, F-38043 Grenoble Cedex, France, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004-03-12
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 169541
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Science
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 303 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1652 - 1656 Identifikator: -