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  Tensile testing of ultrathin polycrystalline films: A new synchrotron based method

Böhm, J., Gruber, P., Spolenak, R., Stierle, A., Wanner, A., & Arzt, E. (2004). Tensile testing of ultrathin polycrystalline films: A new synchrotron based method. Review of Scientific Instruments, 75(4), 1110-1119.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Böhm, J.1, Autor           
Gruber, P.1, Autor           
Spolenak, R.1, Autor           
Stierle, A.2, Autor           
Wanner, A.1, Autor           
Arzt, E.1, 3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Former Central Scientific Facility ANKA Synchroton Beamline, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497651              
3Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt; Abt. Dosch; ZWE MF-ANKA-Beamline;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004-03-16
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 125011
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Review of Scientific Instruments
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 75 (4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1110 - 1119 Identifikator: -