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  Interfacial free volumes and segregation effects in nanocrystalline Pd85Zr15 studied by positron annihilation

Weigand, H., Sprengel, W., Rower, R., Schaefer, H. E., Wejrzanowski, T., & Kelsch, M. (2004). Interfacial free volumes and segregation effects in nanocrystalline Pd85Zr15 studied by positron annihilation. Applied Physics Letters, 84(17), 3370-3372.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-294A-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-294B-6
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Appl. Phys. Lett.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Weigand, H.1, Autor
Sprengel, W.1, Autor
Rower, R.1, Autor
Schaefer, H. E.1, Autor
Wejrzanowski, T.1, Autor
Kelsch, M.2, 3, Autor           
Affiliations:
1Univ Stuttgart, Inst Theoret & Appl Phys, D-70569 Stuttgart, Germany.; Warsaw Univ Technol, Fac Mat Sci & Engn, PL-02507 Warsaw, Poland.;, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004-04-26
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 211662
ISI: 000220958100050
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Alternativer Titel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 84 (17) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3370 - 3372 Identifikator: ISSN: 0003-6951