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  HRTEM studies of segregated Ga at the Al Σ11 (113) [1ˉ10] symmetrical tilt grain boundary

Richter, G., Schmidt, S., Sigle, W., & Rühle, M. (2004). HRTEM studies of segregated Ga at the Al Σ11 (113) [1ˉ10] symmetrical tilt grain boundary.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Richter, G.1, 2, Autor           
Schmidt, S.1, Autor           
Sigle, W.1, Autor           
Rühle, M.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Ehem. Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004-08
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 194927
DOI: 10.1017/S1431927604140245
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy and Microanalysis 2004
Veranstaltungsort: Savannah, Georgia, USA
Start-/Enddatum: 2004-08-01 - 2004-08-05

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings Microscopy and Microanalysis 2004
Genre der Quelle: Heft
 Urheber:
Anderson, I.M., Herausgeber
Price, R., Herausgeber
Hall, E., Herausgeber
Clark, E., Herausgeber
McKernan, S., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 282CD - 283CD Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Microscopy and Microanalysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 10 (Suppl. 2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -