Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Zur Ablage hinzufügen

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

How well does total electron yield measure x-ray absorption in nanoparticles?

Fauth, K. (2004). How well does total electron yield measure x-ray absorption in nanoparticles? Applied Physics Letters, 85(15), 3271-3273. doi:10.1063/1.1804600.

Item is Freigegeben

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:

Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-289E-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-289F-1

Genre: Zeitschriftenartikel

Alternativer Titel : Appl. Phys. Lett.

Dateien

einblenden: Dateien

Externe Referenzen

Urheber

ausblenden:

Urheber:
Fauth, K.¹, Autor

Affiliations:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648

Inhalt

ausblenden:

Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Schütz;

Zusammenfassung: -

Details

ausblenden:

Sprache(n): eng - English

Datum: Erschienen: 2004-10-19

Publikationsstatus: Erschienen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung

Identifikatoren: eDoc: 201615
DOI: 10.1063/1.1804600

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

Entscheidung

Projektinformation

Quelle 1

ausblenden:

Titel: Applied Physics Letters

Alternativer Titel : Appl. Phys. Lett.

Genre der Quelle: Zeitschrift

Urheber:

Affiliations:

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Seiten: - Band / Heft: 85 (15) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3271 - 3273 Identifikator: -