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  Electrical resistance of low-angle tilt grain boundaries in acceptor-doped SrTiO3 as a function of misorientation angle

De Souza, R. A., Fleig, J., Maier, J., Zhang, Z., Sigle, W., & Rühle, M. (2005). Electrical resistance of low-angle tilt grain boundaries in acceptor-doped SrTiO3 as a function of misorientation angle. Journal of Applied Physics, 97: 053502.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Appl. Phys.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
De Souza, R. A.1, Autor
Fleig, J.1, Autor
Maier, J.1, Autor
Zhang, Z.2, Autor           
Sigle, W.2, 3, Autor           
Rühle, M.2, Autor           
Affiliations:
1Max Planck Society, ou_persistent13              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; MPI für Festkörperforschung; Ehemalige Abt. Rühle; Maier;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2005
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: (7 pages)
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 240043
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Applied Physics
  Alternativer Titel : J. Appl. Phys.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 97 Artikelnummer: 053502 Start- / Endseite: - Identifikator: -