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  Stress Analysis of Polycrystalline Thin Films and Surface Regions by X-ray Diffraction(Review)

Welzel, U., Ligot, J., Lamparter, P., Vermeulen, A., & Mittemeijer, E. (2005). Stress Analysis of Polycrystalline Thin Films and Surface Regions by X-ray Diffraction(Review). Journal of Applied Crystallography, 38, 1-29.

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395.pdf (Zusammenfassung), 10KB
 
Datei-Permalink:
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395.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute for Intelligent Systems, MSMT; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
eDoc_access: INSTITUT
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Welzel, U.1, Autor           
Ligot, J., Autor
Lamparter, P.1, Autor           
Vermeulen, A.C., Autor
Mittemeijer, E.J.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2005
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 238122
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Applied Crystallography
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 38 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1 - 29 Identifikator: -