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  Experimental evidence of the dominant role of low-angle grain boundaries for the critical current density in epitaxially grown YBCO thin films

Brück, S., & Albrecht, J. (2005). Experimental evidence of the dominant role of low-angle grain boundaries for the critical current density in epitaxially grown YBCO thin films. Physical Review B, 71: 174508.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Phys. Rev. B

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Brück, S.1, Autor           
Albrecht, J.1, Autor           
Affiliations:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; MPI für Festkörperforschung; Abt. Schütz;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2005-05-24
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 237013
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review B
  Alternativer Titel : Phys. Rev. B
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 71 Artikelnummer: 174508 Start- / Endseite: - Identifikator: -