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  Microscopic investigation of strain localization and fatigue damage in thin Cu films

Zhang, G. P., Volkert, C. A., Schwaiger, R., & Kraft, O. (2005). Microscopic investigation of strain localization and fatigue damage in thin Cu films. Materials Science Forum, 475-479, 3647-3650.

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Urheber

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 Urheber:
Zhang, G. P.1, Autor           
Volkert, C. A.1, Autor           
Schwaiger, R.1, Autor           
Kraft, O.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2005-09-14
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 240396
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Materials Science Forum
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 475-479 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3647 - 3650 Identifikator: -