Microscopic investigation of strain localization and fatigue damage in thin Cu 
films

Zhang, G. P.; Volkert, C. A.; Schwaiger, R.; Kraft, O.

Microscopic investigation of strain localization and fatigue damage in thin Cu films

Zhang, G. P., Volkert, C. A., Schwaiger, R., & Kraft, O. (2005). Microscopic investigation of strain localization and fatigue damage in thin Cu films. Materials Science Forum, 475-479, 3647-3650.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-265E-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-265F-3

資料種別: 学術論文

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Zhang, G. P.¹, 著者
Volkert, C. A.¹, 著者
Schwaiger, R.¹, 著者
Kraft, O.¹, 著者

所属:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2005-09-14

出版の状態: 出版

ページ: -

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目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 240396

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Materials Science Forum

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 475-479 通巻号: - 開始・終了ページ: 3647 - 3650 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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