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  Precision Optical Frequency Metrology Using Pulsed Lasers

Udem, T., Holzwarth, R., Zimmermann, M., & Hänsch, T. W. (2002). Precision Optical Frequency Metrology Using Pulsed Lasers. In Y. A. Ono, & K. Fujikawa (Eds.), Foundations of Quantum Mechanics in the Light of New Technology: Proceedings of the 7th International Symposium (pp. 253-258). Singapore: World Scientific.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Udem, Thomas1, Autor           
Holzwarth, Ronald1, Autor           
Zimmermann, Marcus1, Autor           
Hänsch, T. W.1, Autor           
Affiliations:
1Laser Spectroscopy, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445568              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 24510
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: ISQM - Tokyo '01
Veranstaltungsort: Tokyo
Start-/Enddatum: 2002-08-27 - 2002-08-30

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Foundations of Quantum Mechanics in the Light of New Technology: Proceedings of the 7th International Symposium
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Ono, Yoshimasa A., Herausgeber
Fujikawa, Kazuo, Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Singapore : World Scientific
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 253 - 258 Identifikator: ISBN: 981-238-130-9