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  High Resolution Spectroscopy of a Single In+ Ion

Becker, T., Eichenseer, M., Nevsky, A. Y., Peik, E., Schwedes, C., Skvortsov, M. N., et al. (2002). High Resolution Spectroscopy of a Single In+ Ion. In P. Gill (Ed.), Proceedings of the 6th Symposium on Frequency Standards and Metrology (pp. 107-114). New Jersey: World Scientific.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Becker, Thomas1, 2, Autor           
Eichenseer, Mario2, Autor           
Nevsky, Alexander Y.2, Autor           
Peik, Ekkehard2, Autor           
Schwedes, Christian2, Autor           
Skvortsov, M. N., Autor
von Zanthier, Joachim2, Autor           
Walther, Herbert2, Autor           
Affiliations:
1Laser Spectroscopy, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445568              
2Laser Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445566              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 15718
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 6th Symposium on Frequency Standards and Metrology
Veranstaltungsort: St. Andrews Univ., Fife, Scotland
Start-/Enddatum: 2001-09-09 - 2001-09-14

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 6th Symposium on Frequency Standards and Metrology
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Gill, P., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: New Jersey : World Scientific
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 107 - 114 Identifikator: -