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  Development of a Soft-X-Ray Spectrometer for the Characterization of a Laser-driven Undulator Source

Zeitler, B. (2010). Development of a Soft-X-Ray Spectrometer for the Characterization of a Laser-driven Undulator Source. Diploma Thesis, LMU, München.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-B068-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-B069-0
Genre: Hochschulschrift

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zeitler, Benno1, Autor           
Affiliations:
1Laboratory for Attosecond Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445564              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010-06-01
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: München : LMU
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 478407
 Art des Abschluß: Diplom

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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