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  Electron holography of thin amorphous carbon films: Measurement of the mean inner potential and a thickness-independent phase shift

Wanner, M., Bach, D., Gerthsen, D., Werner, R., & Tesche, B. (2006). Electron holography of thin amorphous carbon films: Measurement of the mean inner potential and a thickness-independent phase shift. Ultramicroscopy, 106, 341-345. doi:10.1016/j.ultramic.2005.10.004.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wanner, M.1, Autor
Bach, D.1, Autor
Gerthsen, D.1, Autor
Werner, R.1, Autor
Tesche, B.2, Autor           
Affiliations:
1Univ Karlsruhe, Lab Elektronenmikroskopie, Karlsruhe, Germany.; Univ Karlsruhe, Inst Theorie Kondensierten Mat, D-76128 Karlsruhe, Germany, ou_persistent22              
2Service Department Tesche (EM), Max-Planck-Institut für Kohlenforschung, Max Planck Society, ou_1445631              

Inhalt

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Schlagwörter: transmission electron microscopy; electron holography; mean inner coulomb potential; surface potential; amorphous carbon; electron energy-loss spectroscopy
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 300377
DOI: 10.1016/j.ultramic.2005.10.004
ISI: 000236042300013
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Ultramicroscopy
  Alternativer Titel : Ultramicroscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 106 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 341 - 345 Identifikator: ISSN: 0304-3991