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  Film-thickness dependence of structure formation in ultra-thin polymer blend films

Gutmann, J. S., Müller-Buschbaum, P., & Stamm, M. (2002). Film-thickness dependence of structure formation in ultra-thin polymer blend films. Applied Physics A-Materials Science & Processing, 74(Suppl. S), S463-S465.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Gutmann, Jochen S.1, Autor           
Müller-Buschbaum, P., Autor
Stamm, Manfred1, Autor           
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: We investigated the film-thickness dependence of structure formation in ultra-thin polymer blend films prepared from solution. As a model system we used binary blends of statistical poly(styrene-co-p-bromostyrene) copolymers of different degrees of bromination. Ultra-thin-film samples differing in miscibility and film thickness were prepared via spin coating of common toluene solutions onto silicon (100) substrates. The resulting morphologies were investigated with scanning force microscopy, reflectometry and grazing-incidence scattering techniques using both X-rays and neutrons in order to obtain a picture of the sample structure at and below the sample surface.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002-12
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Keine Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 28391
ISI: 000181499600154
Anderer: P-02-182
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics A-Materials Science & Processing
  Alternativer Titel : Appl. Phys. A-Mater. Sci. Process.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 74 (Suppl. S) Artikelnummer: - Start- / Endseite: S463 - S465 Identifikator: ISSN: 0947-8396