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  Determination of Micrometer Length Scales with an X-ray Reflection Ultra Small-Angle Scattering Set-Up

Müller-Buschbaum, P., Casagrande, M., Gutmann, J. S., Kuhlmann, T., Stamm, M., von Krosigk, G., et al. (1998). Determination of Micrometer Length Scales with an X-ray Reflection Ultra Small-Angle Scattering Set-Up. Europhysics Letters, 42, 517-522.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Müller-Buschbaum, P., Autor
Casagrande, M.1, Autor           
Gutmann, Jochen S.1, Autor           
Kuhlmann, T.1, Autor           
Stamm, Manfred1, Autor           
von Krosigk, G., Autor
Lode, U., Autor
Cunis, S., Autor
Gehrke, R., Autor
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1998
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 359301
Anderer: P-98-77
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Europhysics Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 42 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 517 - 522 Identifikator: -