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  Analysis of the broadening of X-ray photoelectron spectroscopy peaks for ionic crystals

Nelin, C. J., Bagus, P. S., Brown, M. A., Sterrer, M., & Freund, H.-J. (2011). Analysis of the broadening of X-ray photoelectron spectroscopy peaks for ionic crystals. Angewandte Chemie International Edition, 50(43), 10174-10177. doi:10.1002/anie.201100964.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Nelin, Connie J. 1, Autor
Bagus, Paul S.2, Autor
Brown, Matthew A.3, Autor           
Sterrer, Martin3, Autor           
Freund, Hans-Joachim3, Autor           
Affiliations:
1Nelin Consulting, Austin, USA, ou_persistent22              
2Department of Chemistry, University of North Texas, Denton, USA, ou_persistent22              
3Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, Berlin, DE, ou_24022              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2011-06-202011-10-17
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1002/anie.201100964
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Angewandte Chemie International Edition
  Andere : Angewandte Chemie - International Edition
  Kurztitel : Angew. Chem. Int. Ed.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Weinheim : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
Seiten: 4 Band / Heft: 50 (43) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 10174 - 10177 Identifikator: CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/201310171