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  Electron density dependence of intensity ratio for FeXXII extreme ultraviolet emission lines arising from different ground levels in electron beam ion trap and large helical device

Sakaue, H. A., Yamamoto, N., Morita, S., Nakamura, N., Chen, C., Kato, D., Kikuchi, H., Murakami, I., Ohtani, S., Tanuma, H., Watanabe, T., & Tawara, H. (2011). Electron density dependence of intensity ratio for FeXXII extreme ultraviolet emission lines arising from different ground levels in electron beam ion trap and large helical device. Journal of Applied Physcis, 109(7):. doi:10.1063/1.3549707.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-134C-D 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-134D-B
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Sakaue, H. A.1, 著者
Yamamoto, N.1, 著者
Morita, S.1, 著者
Nakamura, N.1, 著者
Chen, C.1, 著者
Kato, D.1, 著者
Kikuchi, H.1, 著者
Murakami, I.1, 著者
Ohtani, S.1, 著者
Tanuma, H.1, 著者
Watanabe, T.1, 著者
Tawara, Hiroyuki2, 著者           
所属:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Division Prof. Dr. Joachim H. Ullrich, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, ou_904547              

内容説明

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キーワード: B-4945-2011
 要旨: -

資料詳細

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言語:
 日付: 20112011
 出版の状態: 出版
 ページ: 9
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: ISI: 000289949000019
DOI: 10.1063/1.3549707
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Journal of Applied Physcis
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: New York, NY : American Institute of Physics
ページ: - 巻号: 109 (7) 通巻号: 073304 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0021-8979
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042723401880_1