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  The influence of optical light on the charge transfer efficiency of the XMM EPIC pn-CCD camera

Pal, J., Kuster, M., Kendziorra, E., & Krause, N. (1999). The influence of optical light on the charge transfer efficiency of the XMM EPIC pn-CCD camera. In O. Siegmund, & K. Flanagan (Eds.), EUV, X-ray and Gamma-Ray Instrumentation for Astronomy X (pp. 683-692). Bellingham, Wash., USA: Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Pal, J., Autor
Kuster, M., Autor
Kendziorra, E., Autor
Krause, N.1, Autor           
Affiliations:
1Infrared and Submillimeter Astronomy, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159889              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1999
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 294764
Anderer: AS 24/56, p.683-692
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: EUV, X-ray and Gamma-Ray Instrumentation for Astronomy X
Veranstaltungsort: Denver, Colorado, USA
Start-/Enddatum: 1999-07-21 - 1999-07-23

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: EUV, X-ray and Gamma-Ray Instrumentation for Astronomy X
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Siegmund, O.H.W., Herausgeber
Flanagan, K.A., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Bellingham, Wash., USA : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers
Seiten: 838 p. Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 683 - 692 Identifikator: ISBN: 0-8194-3251-2

Quelle 2

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Titel: Proceedings of SPIE
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 3765 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -