Analysis of background events in Silicon Drift Detectors

Eggert, T.; Goldstrass, P.; Kemmer, J.; Pahlke, A.

doi:10.1016/S0168-9002(03)01902-8

Analysis of background events in Silicon Drift Detectors

Eggert, T., Goldstrass, P., Kemmer, J., & Pahlke, A. (2003). Analysis of background events in Silicon Drift Detectors. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A, 512(1-2), 257-264.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-E856-7 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-8080-E

資料種別: 会議論文

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Eggert, T., 著者
Goldstrass, P., 著者
Kemmer, J., 著者
Pahlke, A.¹, 著者

所属:
1High Energy Astrophysics, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159890

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言語: eng - English

日付: 出版: 2003

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 63173
DOI: 10.1016/S0168-9002(03)01902-8
その他: 7676

学位: -

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出版物名: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A

出版物の別名 : Nucl. Instrum. & Methods Phys. Res. Sect. A

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 512 (1-2) 通巻号: - 開始・終了ページ: 257 - 264 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0168-9002

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