Excellent performance with 100 mm² silicon drift detectors

Soltau, H; Eckhardt, R; Jaritschin, O; Jeschke, S; Lechner, P; Liebel, A; Lutz, G; Niculae, A; Schaller, G.; Schopper, F.; Simsek, A; Strüder, L.; Zimmer, O

doi:10.1017/S1431927610059362

Excellent performance with 100 mm² silicon drift detectors

Soltau, H., Eckhardt, R., Jaritschin, O., Jeschke, S., Lechner, P., Liebel, A., Lutz, G., Niculae, A., Schaller, G., Schopper, F., Simsek, A., Strüder, L., & Zimmer, O. (2010). Excellent performance with 100 mm² silicon drift detectors. Microscopy and Microanalysis, 16(Supplement 2), 1306-1307. doi:10.1017/S1431927610059362.

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資料種別: 会議論文

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Soltau, H, 著者
Eckhardt, R, 著者
Jaritschin, O, 著者
Jeschke, S, 著者
Lechner, P, 著者
Liebel, A, 著者
Lutz, G, 著者
Niculae, A, 著者
Schaller, G.¹, 著者
Schopper, F.¹, 著者
Simsek, A, 著者
Strüder, L.¹, 著者
Zimmer, O, 著者

所属:
1High Energy Astrophysics, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159890

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日付: オンライン出版: 2010-08-01

出版の状態: オンラインで出版済み

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識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1017/S1431927610059362
その他: LOCALID: 786567

学位: -

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出版物名: Microscopy and Microanalysis

種別: 学術雑誌

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ページ: - 巻号: 16 (Supplement 2) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1306 - 1307 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1431-9276

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