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  Transmission low-energy electron diffraction using double-gated single nanotip field emitter

Lee, C., Tsujino, S., & Miller, R. J. D. (2018). Transmission low-energy electron diffraction using double-gated single nanotip field emitter. Applied Physics Letters, 113(1): 013505. doi:10.1063/1.5030889.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-E148-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0006-D0E6-B
Genre: Zeitschriftenartikel

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1.5030889.pdf (Verlagsversion), 2MB
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https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-E14A-E
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1.5030889.pdf
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2018
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https://dx.doi.org/10.1063/1.5030889 (Verlagsversion)
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Urheber

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 Urheber:
Lee, C.1, Autor           
Tsujino, Soichiro2, Autor
Miller, R. J. D.1, 3, Autor           
Affiliations:
1Miller Group, Atomically Resolved Dynamics Department, Max Planck Institute for the Structure and Dynamics of Matter, Max Planck Society, ou_1938288              
2Laboratory for Micro and Nanotechnology, Photon Science Division, Paul Scherrer Institut, ou_persistent22              
3Departments of Chemistry and Physics, University of Toronto, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: We explore the spatial coherence of double-gate single nanotip field emitters by low-energy electron diffraction experiments in transmission mode. By producing collimated field emission pulses from the single nanotip cathode and irradiating a suspended monolayer graphene film without additional optics, we observed sharper and higher resolution Bragg diffraction spots than a previous experiment using a nanotip array cathode. In particular, we found complete conservation of the size and the shape of the diffraction spots with those of the incident beam on the sample. The result indicates that the transverse coherence of a nanofabricated double-gate single-tip emitter is much larger than a few nanometers as determined by the apparent diffraction spot size and overall spatial resolution of the observed diffraction pattern.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2018-03-262018-06-182018-07-052018-07-02
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1063/1.5030889
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Kurztitel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 113 (1) Artikelnummer: 013505 Start- / Endseite: - Identifikator: Anderer: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223