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  Real-Time Experimental Measurement of Swept Source VCSEL Properties Relevant to OCT Imaging

Butler, T., Slepneva, S., McNamara, P. M., Neuhaus, K., Goulding, D., Leahy, M., & Huyet, G. (2017). Real-Time Experimental Measurement of Swept Source VCSEL Properties Relevant to OCT Imaging. IEEE Photonics Journal, 9(5):. doi:10.1109/JPHOT.2017.2752644.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Butler, Thomas1, 著者           
Slepneva, S.2, 著者
McNamara, P. M.2, 著者
Neuhaus, K.2, 著者
Goulding, D.2, 著者
Leahy, M.2, 著者
Huyet, G.2, 著者
所属:
1Laboratory for Attosecond Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445564              
2external, ou_persistent22              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2017-102017-10
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): DOI: 10.1109/JPHOT.2017.2752644
URI: ieeexplore.ieee.org/document/8038247
その他: 5439
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: IEEE Photonics Journal
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: IEEE
ページ: - 巻号: 9 (5) 通巻号: 1505810 開始・終了ページ: - 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -