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  The metrology system of the VLTI instrument GRAVITY

Lippa, M., Gillessen, S., Blind, N., Kok, Y., Yazıcı, Ş., Weber, J., Pfuhl, O., Haug, M., Kellner, S., Wieprecht, E., Eisenhauer, F., Genzel, R., Hans, O., Haußmann, F., Huber, D., Kratschmann, T., Ott, T., Plattner, M., Rau, C., Sturm, E., Waisberg, I., Wiezorrek, E., Perrin, G., Perraut, K., Brandner, W., Straubmeier, C., & Amorim, A. (2016). The metrology system of the VLTI instrument GRAVITY. In F., Malbet, M. J., Creech-Eakman, & P. G., Tuthill (Eds.), Optical and Infrared Interferometry and Imaging V (pp. 1-9).

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002C-82F9-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002C-82FA-2
資料種別: 会議論文

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lippa.pdf (全文テキスト（全般）), 995KB
 
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-
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-
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-
CCライセンス:
-

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作成者

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 作成者:
Lippa, Magdalena1, 著者           
Gillessen, Stefan1, 著者           
Blind, Nicolas, 著者
Kok, Yitping, 著者
Yazıcı, Şenol, 著者
Weber, Johannes1, 著者           
Pfuhl, Oliver1, 著者           
Haug, Marcus1, 著者           
Kellner, Stefan1, 著者           
Wieprecht, Ekkehard1, 著者           
Eisenhauer, Frank1, 著者           
Genzel, Reinhard1, 著者           
Hans, Oliver1, 著者           
Haußmann, Frank1, 著者           
Huber, David2, 著者           
Kratschmann, Tobias2, 著者           
Ott, Thomas1, 著者           
Plattner, Markus2, 著者           
Rau, Christian2, 著者           
Sturm, Eckhard1, 著者           
Waisberg, Idel1, 著者           Wiezorrek, Erich1, 著者           Perrin, Guy, 著者Perraut, Karine, 著者Brandner, Wolfgang, 著者Straubmeier, Christian, 著者Amorim, Antonio, 著者 全て表示
所属:
1Infrared and Submillimeter Astronomy, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159889              
2MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159888              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2016
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1117/12.2232272
その他: LOCALID: 2400200
 学位: -

関連イベント

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非表示:
イベント名: Optical and Infrared Interferometry and Imaging V
開催地: Edinburgh, UK
開始日・終了日: 2016-06-26 - 2016-06-26

訴訟

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Project information

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出版物 1

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非表示:
出版物名: Optical and Infrared Interferometry and Imaging V
種別: 会議論文集
 著者・編者:
Malbet, Fabien, 編集者
Creech-Eakman, Michelle J., 編集者
Tuthill, Peter G., 編集者
所属:
-
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: - 通巻号: 990722 開始・終了ページ: 1 - 9 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISBN: 978-0-5106-0193-2

出版物 2

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非表示:
出版物名: Proceedings of SPIE
種別: 連載記事
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Bellingham, WA, USA : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers
ページ: - 巻号: 9907 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0277-786X