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  Effects of uneven sampling in 3D reconstructions

Sorzano, C. O. S., Marabini, R., Carazo, J.-M., Rietzel, E., Schröder, R. R., Herman, G. T., et al. (1998). Effects of uneven sampling in 3D reconstructions. In Electron microscopy: Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy (pp. 771-772). London: Taylor & Francis.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002B-77FF-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002B-792F-4
Genre: Konferenzbeitrag
Alternativer Titel : Effects of uneven sampling in 3D reconstructions

Dateien

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:
ElectronMicroscopy_1998_1998_ 771.pdf (beliebiger Volltext), 189KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
ElectronMicroscopy_1998_1998_ 771.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute for Medical Research, MHMF; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Sorzano, C. O. S., Autor
Marabini, Roberto, Autor
Carazo, José-Maria, Autor
Rietzel, Eicke1, Autor           
Schröder, Rasmus R.1, 2, Autor           
Herman, Gabor T., Autor
Boisset, Nicolas, Autor
Affiliations:
1Emeritus Group Biophysics, Max Planck Institute for Medical Research, Max Planck Society, ou_1497712              
2Department of Biomolecular Mechanisms, Max Planck Institute for Medical Research, Max Planck Society, ou_1497700              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1998
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 666656
Anderer: 4283
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 14th International Congress on Electron Microscopy
Veranstaltungsort: Cancún
Start-/Enddatum: 1998-08-31 - 1998-09-04

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Electron microscopy : Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy
  Alternativer Titel : Electron Microscopy : Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: London : Taylor & Francis
Seiten: - Band / Heft: 1 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 771 - 772 Identifikator: ISBN: 0750305681
ISBN: 9780750305686