Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 DetailsÜbersicht
  Approximate 3D Partial Symmetry Detection Using Co-occurrence Analysis

Li, C., Wand, M., Wu, X., & Seidel, H.-P. (2015). Approximate 3D Partial Symmetry Detection Using Co-occurrence Analysis. In M. Brown, & J. Kosecka (Eds.), International Conference on 3D Vision (pp. 425-433). Piscataway, NJ: IEEE. doi:10.1109/3DV.2015.55.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002B-34D8-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002B-34D9-E
Genre: Konferenzbeitrag
Latex : Approximate {3D} Partial Symmetry Detection Using Co-occurrence Analysis

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Li, Chuan1, Autor           
Wand, Michael1, Autor           
Wu, Xiaokun2, Autor           
Seidel, Hans-Peter2, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society, ou_40047              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n):
 Datum: 20152015
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: BibTex Citekey: Li3DV2015
DOI: 10.1109/3DV.2015.55
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:
ausblenden:
Titel: International Conference on 3D Vision
Veranstaltungsort: Lyon, France
Start-/Enddatum: 2015-10-19 - 2015-10-22

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: International Conference on 3D Vision
  Kurztitel : 3DV 2015
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Brown, Michael1, Herausgeber
Kosecka, Jana1, Herausgeber
Theobalt, Christian2, Autor           
Affiliations:
1 External Organizations, ou_persistent22            
2 Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society, ou_40047            
Ort, Verlag, Ausgabe: Piscataway, NJ : IEEE
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 425 - 433 Identifikator: ISBN: 978-1-4673-8333-2