Laser intensity effects in carrier-envelope phase-tagged time of 
flight-photoemission electron microscopy

Chew, Soo Hoon; Gliserin, Alexander; Schmidt, J.; Bian, H.; Nobis, S.; Schertz, F.; Kübel, Matthias; Yang, Y. -Y.; Loitsch, B.; Stettner, T.; Finley, J. J.; Späth, C.; Ouacha, H.; Azzeer, A. M.; Kleineberg, U.

doi:10.1007/s00340-016-6374-3

Laser intensity effects in carrier-envelope phase-tagged time of flight-photoemission electron microscopy

Chew, S. H., Gliserin, A., Schmidt, J., Bian, H., Nobis, S., Schertz, F., Kübel, M., Yang, Y.-.-Y., Loitsch, B., Stettner, T., Finley, J. J., Späth, C., Ouacha, H., Azzeer, A. M., & Kleineberg, U. (2016). Laser intensity effects in carrier-envelope phase-tagged time of flight-photoemission electron microscopy. Applied Physics B: Lasers and Optics, 122(4):. doi:10.1007/s00340-016-6374-3.

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資料種別: 学術論文

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Chew, Soo Hoon¹, 著者
Gliserin, Alexander¹, 著者
Schmidt, J.², 著者
Bian, H.², 著者
Nobis, S.², 著者
Schertz, F.², 著者
Kübel, Matthias³, 著者
Yang, Y. -Y.², 著者
Loitsch, B.², 著者
Stettner, T.², 著者
Finley, J. J.², 著者
Späth, C.², 著者
Ouacha, H.², 著者
Azzeer, A. M.², 著者
Kleineberg, U.², 著者

所属:
1Laboratory for Attosecond Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445564
2external, ou_persistent22
3Attosecond Imaging, Laboratory for Attosecond Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445574

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言語: eng - English

日付: 投稿: 2016-08-17受理: 2016-02-25オンライン出版: 2016-04-12出版: 2016

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査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1007/s00340-016-6374-3
URI: http://link.springer.com/article/10.1007%2Fs00340-016-6374-3
その他: 5204

学位: -

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出版物名: Applied Physics B: Lasers and Optics

その他 : Appl. Phys. B: Lasers O.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: Heidelberg : Springer-Verlag

ページ: - 巻号: 122 (4) 通巻号: 102 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0946-2171
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928582870

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