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  High-resolution analysis of currents at low-angle grain boundaries in YBCO thin films using magnetooptics and magnetic x-ray microscopy

Ruoß, S., Stahl, C., Bayer, J., Schütz, G., Albrecht, J., & Laviano, F. (2016). High-resolution analysis of currents at low-angle grain boundaries in YBCO thin films using magnetooptics and magnetic x-ray microscopy. IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 26(3):. doi:10.1109/TASC.2016.2549180.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-C4FB-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-C4FC-E
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Ruoß, S.1, 著者           
Stahl, C.1, 著者           
Bayer, J.1, 2, 著者           
Schütz, G.1, 著者           
Albrecht, J.2, 著者
Laviano, F.3, 著者
所属:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              
2Research Institute for Innovative Surfaces FINO, Aalen University, Beethovenstr. 1, 73430 Aalen, Germany, ou_persistent22              
3Department of Applied Science and Technology, Politecnico di Torino, Corso Duca degli Abruzzi 24, 10129 Torino, Italy, ou_persistent22              

内容説明

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キーワード: Abt. Schütz
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2016-04-01
 出版の状態: 出版
 ページ: 6
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1109/TASC.2016.2549180
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: IEEE Transactions on Applied Superconductivity
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: New York, NY : IEEE
ページ: - 巻号: 26 (3) 通巻号: 7500606 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1051-8223
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925593491