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  In situ bending of an Au nanowire monitored by micro Laue diffraction

Leclere, C., Cornelius, T. W., Ren, Z., Davydok, A., Micha, J.-S., Robach, O., Richter, G., Belliard, L., & Thomas, O. (2015). In situ bending of an Au nanowire monitored by micro Laue diffraction. Journal of Applied Crystallography, 48, 291-296. doi:10.1107/S1600576715001107.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-46BE-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-400F-1
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Leclere, Cédric1, 著者
Cornelius, Thomas W.1, 著者
Ren, Zhe1, 著者
Davydok, Anton1, 著者
Micha, Jean-Sébastien2, 著者
Robach, Odile2, 著者
Richter, Gunther3, 著者           
Belliard, Laurent4, 著者
Thomas, Olivier1, 著者
所属:
1Aix-Marseille Université, CNRS, Université de Toulon, IM2NP , Marseille, France, ou_persistent22              
2CEA, INAC, SP2M/NRS, Grenoble, France, ou_persistent22              
3Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              
4Universite ́ Pierre et Marie Curie, CNRS, Institut des Nanosciences de Paris, Paris, France, ou_persistent22              

内容説明

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キーワード: Abt. Sitti; ZWE Dünnschichtlabor
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2015-01-19
 出版の状態: オンラインで出版済み
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1107/S1600576715001107
 学位: -

関連イベント

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Journal of Applied Crystallography
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Oxford, England : Blackwell Publishing on behalf of the International Union of Crystallography
ページ: - 巻号: 48 通巻号: - 開始・終了ページ: 291 - 296 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0021-8898
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925410812