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  Measuring surface dislocation nucleation in defect-scarce nanostructures

Chen, L. Y., He, M.-r., Shin, J., Richter, G., & Gianola, D. S. (2015). Measuring surface dislocation nucleation in defect-scarce nanostructures. Nature Materials, 14, 707-713. doi:10.1038/nmat4288.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Chen, Lisa Y.1, 著者
He, Mo-rigen1, 著者
Shin, Jungho1, 著者
Richter, Gunther2, 著者           
Gianola, Daniel S.1, 著者
所属:
1Department of Materials Science and Engineering, University of Pennsylvania, Philadelphia, Pennsylvania, USA, ou_persistent22              
2Dept. Physical Intelligence, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_2054292              

内容説明

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キーワード: Abt. Sitti; ZWE Dünnschichtlabor
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2015-05-182015
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): DOI: 10.1038/nmat4288
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Nature Materials
  省略形 : Nat. Mater.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: London, UK : Nature Pub. Group
ページ: - 巻号: 14 通巻号: - 開始・終了ページ: 707 - 713 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): DOI: 10.1038/nmat4288
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/111054835734000