High sensitivity permeation measurement set-up based on Scanning Kelvin Probe

Evers, Stefan; Rohwerder, Michael

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High sensitivity permeation measurement set-up based on Scanning Kelvin Probe

Evers, S., & Rohwerder, M. (2010). High sensitivity permeation measurement set-up based on Scanning Kelvin Probe. Talk presented at 217th ECS Meeting. Vancouver, Canada. 2010-04-25 - 2010-04-30.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-D411-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-D412-6

資料種別: 講演

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Evers, Stefan¹, 著者
Rohwerder, Michael^{1, 2}, 著者

所属:
1Christian Doppler Laboratory for Diffusion and Segregation Mechanisms, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863352
2Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863360

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言語: eng - English

日付: 作成: 2010

出版の状態: 不明

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