A Method to Overcome the Problem of Small Sample Tilts in Light Element 
Electron Microprobe Analysis

Mackenzie, A. P.

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A Method to Overcome the Problem of Small Sample Tilts in Light Element Electron Microprobe Analysis

Mackenzie, A. P. (1990). A Method to Overcome the Problem of Small Sample Tilts in Light Element Electron Microprobe Analysis. In Proceedings of the XIIth International Conference on Electron Microscopy (pp. 221). San Francisco Press.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0018-E855-A 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0018-E857-6

資料種別: 会議論文

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Mackenzie, A. P.¹, 著者

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1External Organizations, ou_persistent22

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日付: 出版: 1990-01-01

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出版物名: Proceedings of the XIIth International Conference on Electron Microscopy

種別: 会議論文集

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出版社, 出版地: San Francisco Press

ページ: - 巻号: 2 通巻号: - 開始・終了ページ: 221 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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