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Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles prepared using focused ion beam milling

Volkert, C. A., Busch, S., Heiland, B., & Dehm, G. (2004). Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles prepared using focused ion beam milling. Journal of Microscopy, 214, 208-212. doi:10.1111/j.0022-2720.2004.01352.x.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-2DE6-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0018-BE98-B

Genre: Zeitschriftenartikel

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Externe Referenzen

Urheber

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Urheber:
Volkert, C. A., Autor
Busch, S.¹, Autor
Heiland, B., Autor
Dehm, G., Autor

Affiliations:
1Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863404

Inhalt

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Schlagwörter: apatite; FIB; focused ion beam milling; TEM sample preparation; tooth enamel; ultramicrotomy

Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English

Datum: Erschienen: 2004-06

Publikationsstatus: Erschienen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung

Identifikatoren: eDoc: 220192
ISI: 000221536000002
DOI: 10.1111/j.0022-2720.2004.01352.x

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

Entscheidung

Projektinformation

Quelle 1

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Titel: Journal of Microscopy

Alternativer Titel : J. Microsc.-Oxf.

Genre der Quelle: Zeitschrift

Urheber:

Affiliations:

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Seiten: - Band / Heft: 214 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 208 - 212 Identifikator: ISSN: 0022-2720