Electron Microscopy and Holography of Nanobricks of Si and Ge Clathrates

Simon, P.; Carrillo-Cabrera, W.; Zhongjia, T.; Chiong, K.; Baitinger, M.; Grin, Y.; Guloy, A. M.

Electron Microscopy and Holography of Nanobricks of Si and Ge Clathrates

Simon, P., Carrillo-Cabrera, W., Zhongjia, T., Chiong, K., Baitinger, M., Grin, Y., & Guloy, A. M. (2010). Electron Microscopy and Holography of Nanobricks of Si and Ge Clathrates. Nanofair 2010 - 8th International Nanotechnology Symposium,.

Item is 公開

表示: 全項目非表示: 全項目

基本情報

表示: 非表示:

アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-24A2-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-3C5E-5

資料種別: 会議論文

ファイル

表示: ファイル

作成者

表示:

非表示:

作成者:
Simon, P.¹, 著者
Carrillo-Cabrera, W.², 著者
Zhongjia, T., 著者
Chiong, K., 著者
Baitinger, M.³, 著者
Grin, Y.⁴, 著者
Guloy, A. M.⁵, 著者

所属:
1Paul Simon, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863418
2Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863405
3Michael Baitinger, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863416
4Juri Grin, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863413
5Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863404

内容説明

表示:

資料詳細

表示:

非表示:

言語: eng - English

日付: 出版: 2010-03-01

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 537451
URI: http://www.nanofair.com/

学位: -

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:

非表示:

出版物名: Nanofair 2010 - 8th International Nanotechnology Symposium

種別: 学術雑誌

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: -

ページ: CD-ROM 巻号: - 通巻号: Session analytics I 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

アイテム詳細

基本情報

ファイル

関連URL

作成者

内容説明

資料詳細

関連イベント

訴訟

Project information

出版物 1