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  Profiling structured beams using injected aerosols

Loh, N. D., Starodub, D., Lomb, L., Hampton, C. Y., Martin, A. V., Sierra, R. G., Barty, A., Aquila, A., Schulz, J., Steinbrener, J., Shoeman, R. L., Kassemeyer, S., Bostedt, C., Bozek, J., Epp, S. W., Erk, B., Hartmann, R., Rolles, D., Rudenko, A., Rudek, B., Foucar, L., Kimmel, N., Weidenspointner, G., Hauser, G., Holl, P., Pedersoli, E., Liang, M., Hunter, M. S., Gumprecht, L., Coppola, N., Wunderer, C., Graafsman, H., Maia, F. R. N. C., Ekeberg, T., Hantke, M., Fleckenstein, H., Hirsemann, H., Nass, K., White, T. A., Tobias, H. J., Farquar, G. R., Benner, W. H., Hau-Riege, S., Reich, C., Hartmann, A., Soltau, H., Marchesini, S., Bajt, S., Barthelmess, M., Strueder, L., Ullrich, J., Bucksbaum, P., Hodgson, K. O., Frank, M., Schlichting, I., Chapman, H. N., & Bogan, M. J. (2012). Profiling structured beams using injected aerosols. In Proceedings of SPIE. SPIE © 1962 - 2013. All Rights Reserved. doi:doi:10.1117/12.930075.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0014-736E-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0014-736F-3
資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Loh, N. D., 著者
Starodub, Dmitri, 著者
Lomb, Lukas, 著者
Hampton, Christina Y., 著者
Martin, Andrew V., 著者
Sierra, Raymond G., 著者
Barty, Anton, 著者
Aquila, Andrew, 著者
Schulz, Joachim, 著者
Steinbrener, Jan, 著者
Shoeman, Robert L., 著者
Kassemeyer, Stephan, 著者
Bostedt, Christoph, 著者
Bozek, John, 著者
Epp, Sascha W.1, 著者           
Erk, Benjamin2, 著者           
Hartmann, Robert, 著者
Rolles, Daniel2, 著者           
Rudenko, Artem1, 著者           
Rudek, Benedikt2, 著者           
Foucar, Lutz2, 著者           Kimmel, Nils, 著者Weidenspointner, Georg, 著者Hauser, Günther, 著者Holl, Peter, 著者Pedersoli, Emanuele, 著者Liang, MengNing, 著者Hunter, Mark S., 著者Gumprecht, Lars, 著者Coppola, Nicola, 著者Wunderer, Cornelia, 著者Graafsman, Heinz, 著者Maia, Filipe R. N. C., 著者Ekeberg, Tomas, 著者Hantke, Max, 著者Fleckenstein, Holger, 著者Hirsemann, Helmut, 著者Nass, Karol, 著者White, Thomas A., 著者Tobias, Herbert J., 著者Farquar, George R., 著者Benner, W. Henry, 著者Hau-Riege, Stefan, 著者Reich, Christian, 著者Hartmann, Andreas, 著者Soltau, Heike, 著者Marchesini, Stefano, 著者Bajt, Sasa, 著者Barthelmess, Miriam, 著者Strueder, Lothar, 著者Ullrich, Joachim3, 著者           Bucksbaum, Philip, 著者Hodgson, Keith O., 著者Frank, Mathias, 著者Schlichting, Ilme, 著者Chapman, Henry N., 著者Bogan, Michael J., 著者 全て表示
所属:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Department of Biomolecular Mechanisms, ou_1497700              
3Division Prof. Dr. Joachim H. Ullrich, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, ou_904547              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: Profiling structured beams produced by X-ray free-electron lasers (FELs) is crucial to both maximizing signal intensity for weakly scattering targets and interpreting their scattering patterns. Earlier ablative imprint studies describe how to infer the X-ray beam profile from the damage that an attenuated beam inflicts on a substrate. However, the beams in-situ profile is not directly accessible with imprint studies because the damage profile could be different from the actual beam profile. On the other hand, although a Shack-Hartmann sensor is capable of in-situ profiling, its lenses may be quickly damaged at the intense focus of hard X-ray FEL beams. We describe a new approach that probes the in-situ morphology of the intense FEL focus. By studying the translations in diffraction patterns from an ensemble of randomly injected sub-micron latex spheres, we were able to determine the non-Gaussian nature of the intense FEL beam at the Linac Coherent Light Source (SLAC National Laboratory) near the FEL focus. We discuss an experimental application of such a beam-profiling technique, and the limitations we need to overcome before it can be widely applied. © (2012) COPYRIGHT Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE). Downloading of the abstract is permitted for personal use only.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2012-10-19
 出版の状態: オンラインで出版済み
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: doi:10.1117/12.930075
 学位: -

関連イベント

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イベント名: X-Ray Free-Electron Lasers: Beam Diagnostics, Beamline Instrumentation, and Applications
開催地: San Diego, California, USA
開始日・終了日: 2012-08-13 - 2012-08-16

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of SPIE
種別: 会議論文集
 著者・編者:
Moeller, Stefan P., 著者
Yabashi, Makina, 著者
Hau-Riege, Stefan P.1, 著者           
所属:
1 External Organizations, ou_persistent22            
出版社, 出版地: SPIE © 1962 - 2013. All Rights Reserved
ページ: - 巻号: 8504 通巻号: 850403 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/111097776606042