TEM foil preparation of sub-micrometre sized individual grains by focused ion 
beam technique

Holzapfel, C.; Soldera, F.; Vollmer, C.; Hoppe, P.; Mücklich, F.

TEM foil preparation of sub-micrometre sized individual grains by focused ion beam technique

Holzapfel, C., Soldera, F., Vollmer, C., Hoppe, P., & Mücklich, F. (2009). TEM foil preparation of sub-micrometre sized individual grains by focused ion beam technique. Journal of Microscopy-Oxford, 235(1), 59-66.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0014-829C-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0014-829D-6

資料種別: 学術論文

その他のタイトル : J. Microsc.-Oxf.

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Holzapfel, C., 著者
Soldera, F., 著者
Vollmer, C.¹, 著者
Hoppe, P.¹, 著者
Mücklich, F., 著者

所属:
1Particle Chemistry, Max Planck Institute for Chemistry, Max Planck Society, ou_1826291

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言語: eng - English

日付: 出版: 2009-07

出版の状態: 出版

ページ: -

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目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 436647
ISI: 000267172600006

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出版物名: Journal of Microscopy-Oxford

出版物の別名 : J. Microsc.-Oxf.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 235 (1) 通巻号: - 開始・終了ページ: 59 - 66 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0022-2720

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