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  Hilbertian Metrics on Probability Measures and their Application in SVM's

Hein, H., Lal, T., & Bousquet, O. (2004). Hilbertian Metrics on Probability Measures and their Application in SVM's. In Pattern Recognition, Proceedings of th 26th DAGM Symposium (pp. 270-277).

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Urheber

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 Urheber:
Hein, H1, Autor           
Lal, TN1, Autor           
Bousquet, O1, Autor           
Rasmussen, Herausgeber
E., C., Herausgeber
Bülthoff, H. H., Herausgeber
Giese, M., Herausgeber
Schölkopf, B., Herausgeber
Affiliations:
1Department Empirical Inference, Max Planck Institute for Biological Cybernetics, Max Planck Society, ou_1497795              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: The goal of this article is to investigate the field of Hilbertian metrics on probability measures. Since they are very versatile and can therefore be applied in various problems they are of great interest in kernel methods. Quit recently Topsoe and Fuglede introduced a family of Hilbertian metrics on probability measures. We give basic properties of the Hilbertian metrics of this family and other used metrics in the literature. Then we propose an extension of the considered metrics which incorporates structural information of the probability space into the Hilbertian metric. Finally we compare all proposed metrics in an image and text classification problem using histogram data.

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2004
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: BibTex Citekey: 2786
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Pattern Recognition, Proceedings of th 26th DAGM Symposium
Veranstaltungsort: -
Start-/Enddatum: -

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Pattern Recognition, Proceedings of th 26th DAGM Symposium
Genre der Quelle: Konferenzband
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Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 270 - 277 Identifikator: -